半价层()

X-线束的半价层是使射线束的曝光率减少到一半的某种物质的厚度。对放射线进行描述时，虽然单独提供HVL在大多数临床情况下已经足够了，但是，其他参数的值(如X-线管的峰值电位差或X-线束的同质系数)有时也与HVL一起来陈述。一旦X-线束的HVL以及特定位置的曝光率或剂量率为已知时，就可以计算出被照射媒质其他位置的吸收剂量率。

HVL是用固态“吸收体”(更正确地讲，衰减体)来测量的，如均匀厚度的薄铝片、薄铜片或薄铅片。通过把不同厚度但恒定成分的衰减体放在X-线管和用于测量辐射曝光的电离室之间来测量HVL。光子能量分布随着加到X-线束的衰减体变化，而电离室的响应应该与这些变化无关。应该总是用狭窄几何形状的射束来测量HVL。狭窄几何形状射束(有时也叫“良好”几何形状)保证经由衰减体传递进入电离室的只有原发光子。如果电离室远离衰减体，窄束几何形状的要求就会满足，那么就可以测量小横截面积的X-线束。射束的横截面积应该足够大以在电离室的整个敏感区域传递均匀的曝光量。图6-12描述了窄束几何形状和宽束“不良”几何形状的条件。图6-13比较了在这些条件下的HVL的测量结果。在宽束几何形状中，随着衰减体厚度的增加会有更多的光子散射到检测器中。因此，用宽束几何形状测量的HVL会比用窄束几何形状要大。在宽束几何形状下测量的HVL常用于X-线设备周围墙壁的屏蔽要求的计算。

窄束几何形状靠把衰减体放置在X-线靶与电离室的中间位置，且电离室至少离衰减体0.5m来实现。该射野的面积不应超过几平方厘米。应该将有可能使光子散射进入电离室的物体从X-线束周围移走。通过测量不同横截面积射野的HVL并将其外推至零射野可以得出更为准确的HVL值［31］。然而，这样的过程在日常临床剂量检测中是不必要的。

X-线在铜中的衰减曲线如页边图6-14所示。图中所描述的X-线束的HVL为1.86mm铜。在常规剂量检测中，并不需要完整的衰减曲线，而是使曝光量减少到略大于一半(50%到55%)和略小于一半(45%到50%)来鉴别衰减体的厚度。这些数据被绘制在一张半对数表上，然后用一直线连接。该近似的HVL由这条直线与过纵坐标(y轴)在没有将衰减体加到射束中测量到的曝光率的一半处画的水平线的交点给出。