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质控数据的多规则方法的实际应用

时间:2022-04-21 理论教育 版权反馈
【摘要】:同理将L2水平的质控数据亦转化成Z分数。图中第5批测定:低浓度质控品测定值超过了-3s界限,违背了13 s;高浓度质控品测定值在2s范围内。 需要注意R4s规则仅应用于批内,因此,批间的系统误差不能错误地解释为随机误差。比较多规则质控方法和具有3s质控界限的Levey-Jennings质控图的误差检出概率,显示出多规则质控方法提高了误差检出。其中R4s规则提高了随机误差的检出,而22s、41s和10x规则提高了系统误差的检出。

【目的】 学会使用Excel表格建立常规Z分数质控图并应用Westgard多规则判断和分析质控数据。

【方法】 按照附图A-1的数据建立Z分数质控图并描记质控数据在相应的质控图的坐标位置之上。具体方法如下:

附图A-1 水平质控数据的Z分数转化表

1.常规质控数据转化成Z分数。将L1水平的每一次测定数据减去L1的平均值再除以标准差,得到每一质控测定结果的Z分数。同理将L2水平的质控数据亦转化成Z分数。

2.使用Excel的图表生成工具,选择折线图方式按照软件提示建立质控图(附图A-2)所示。

【结果与分析】 附图A-2显示的是2种不同浓度水平质控品的Z分数质控图(L1为低浓度,L2为高浓度),应用westgard多规则质控方法质控品的测定结果的在控与失控。

附图A-2 水平Z分数质控图

图中第5批测定:低浓度质控品测定值超过了-3s界限,违背了13 s;高浓度质控品测定值在2s范围内。此批判为失控。

第6批测定:高浓度质控品的测定值超出+2s界限,低浓度质控品测定值在2s以内,皆未违背其他规则,故判断为警告,但可接受。

第8批测定:两个质控品的测定值超过了各自+2s界限,违背22s规则,判断为失控。

第11批测定:两个质控品的测定值超过了各自+2s界限,但方向相反,违背了R4s规则,判断为失控。

第12批测定:高浓度质控品测定值超过-2s界限,低浓度质持品的测定值未超过,且未违背其他规则,判断为警告但可接受。

第19批测定:低浓度质控品的测定值超过-2s界限,且每一质控品最近两个测定值超过了各自的-1s,违背41s规则,判断为失控。

第29批测定:低浓度质控品的测定值超过-2s界限,检查发现从第25批测定直至第29批测定,有10次测定值皆落在均值的同一侧(下侧),违背10 x规则,判断为失控。

附表A-4汇总了质控图上数据的解释,提供了批号、在控/失控决定、违背的质控规则。

【注意事项】 需要注意R4s规则仅应用于批内,因此,批间的系统误差不能错误地解释为随机误差。然而,此规则可应用于不同的质控品,意思是一个质控结果可以是低浓度的质控品,另一个质控结果可以是高浓度质控品,只要它们是在同一分析批。另一方面,注意22 s、41 s和10x规则可应用于不同的批和质控品,提高了质控方法在检出不同分析批之间的误差检出的能力。

比较多规则质控方法和具有3s质控界限的Levey-Jennings质控图的误差检出概率,显示出多规则质控方法提高了误差检出。其中R4s规则提高了随机误差的检出,而22s、41s和10x规则提高了系统误差的检出。

【讨论】

1.试述处理失控状态的路径和方法。

2.试述Westgard多规则方法中不同法则在质量控制图中的意义。

(张 健)

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