【摘要】：在测试芯片逻辑功能时，把实验箱上逻辑电平输出单元作为输入，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑电平。
一、实验目的
(1)测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门的逻辑功能。
(2)了解测试的方法与测试的原理。
二、实验仪器
(1)数字逻辑电路实验箱
(2)芯片与门74LS08、或门74LS32、非门74LS04各一片
三、实验原理
实验中用到的基本门电路的符号为:
图2－2－1 与门
图2－2－2 或门
图2－2－3 非门
在测试芯片逻辑功能时，把实验箱上逻辑电平输出单元作为输入，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑电平。
74LS08内含有四个相互独立的二输入与门，其内部连接图如图2－2－4。
74LS32内含有四个相互独立的二输入或门，其内部连接图如图2－2－5。
74LS04内含有六个独立的反向器，请参照芯片说明手册，弄清其内部结构及应用方法。
图2－2－4 74LS08的内部结构图
图2－2－5 74LS32的内部结构图
四、实验内容
TTL门电路的逻辑功能测试:
(1)关闭系统电源。
(2)对照芯片引脚图，把74LS08正确放置到实验箱上的DIP14插座中。
(3)把芯片的第7脚接到实验箱的地“GND”，第14脚接到电源“+5V”。
(4)选择74LS08中的任意一个与门，把其输入引脚连接到实验箱上的逻辑电平输出单元，输出端连接到逻辑电平显示单元。
(5)打开电源，改变输入的逻辑电平，观察记录与门输出的结果，对照真值表验证其逻辑功能。
(芯片74LS32、74LS04中或门和非门的测试方法与上同，不再赘述)
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